タッチスクリーンの製品の安全性と耐久性
お客様固有のタッチスクリーンの開発の過程で、 Interelectronix はHALT(高加速寿命試験)およびHASS(ストレススクリーニング)ストレステスト方法を使用して、それに応じて製品の安全性と耐用年数をテストおよび最適化します。
HALT耐用年数テストの助けを借りて、技術的な弱点と設計エラーの両方がタッチスクリーンの開発中の早い段階で検出され、材料と構造の適切な選択によって排除されます。
HASSおよびHALTテストは、通常のアプリケーション関連の経年劣化とタッチスクリーンの摩耗を迅速なプロセスでシミュレートするために使用されます。このテスト手順はわずか2〜5日で完了し、製品の弱点を明らかにする人工的な老化プロセスを作成します。
HALTテストの##Ablauf このテストでは、タッチスクリーンを圧縮空気チャンバー内の振動テーブルに置きます。
テストは通常、コールドステージテストから始まります。摂氏20度から始めて、温度はチェックする最低温度まで10ケルビンステップで下げられます。これは、各温度設定で約10分間行われます。
次のステップでは、タッチスクリーンは同様の熱レベルテストを受け、次に温度変動テストを受け、最低温度と最高温度の間をジャンプします。
最後に、タッチスクリーンは5 Grmsステップで耐振動性を証明する必要があります。
テスト実行の最後に複合ストレステストを実行すると、個々の荷重が重ね合わされるため、最大の応力が再び発生します。
過酷な条件下での耐久性を保証
特別なソリューションだけでなく、当社の標準タッチスクリーンもHALTテストの対象となります。
「パネルの堅牢な設計を非常に重視しているため、特許取得済みの抵抗技術と投影型静電容量モデルの両方で非常に硬いガラス表面のみが使用されているため、両方の技術で非常に優れたHALTテスト結果が得られます。」
クリスチャン・キューン、ガラスフィルムガラス技術専門家
お客様のご要望に応じて、個別のテストを実施させていただきます。アドバイスさせてください。