Termékbiztonság és az érintőképernyők tartóssága
Az ügyfélspecifikus érintőképernyők fejlesztése során a Interelectronix a HALT (Highly Accelerated Life Test) és a HASS (Stress Screening) stresszteszt módszereket alkalmazza a termékbiztonság és az élettartam megfelelő tesztelésére és optimalizálására.
A HALT élettartam-teszt segítségével mind a műszaki gyengeségek, mind a tervezési hibák az érintőképernyő fejlesztése során korai szakaszban észlelhetők, és megfelelő anyagválasztással és konstrukcióval kiküszöbölhetők.
A HASS és HALT tesztet az érintőképernyő normál, alkalmazással kapcsolatos öregedésének és kopásának szimulálására használják gyors folyamatban. Ez a vizsgálati eljárás mindössze két-öt napot vesz igénybe, mesterséges öregedési folyamatot hozva létre, amely feltárja a termék gyengeségeit.
##Ablauf HALT teszt Ehhez a vizsgálathoz az érintőképernyőt egy sűrítettlevegő-kamrában lévő rezgőasztalra kell helyezni.
A teszt általában hideg fázisú teszttel kezdődik. 20°C-tól kezdődően a hőmérsékletet 10 Kelvin-lépésben csökkentik az ellenőrizendő minimális hőmérsékletre. Ez körülbelül 10 percig történik minden hőmérséklet-beállításnál.
A következő lépésben az érintőképernyő hasonló hőszint-teszten megy keresztül, majd hőmérséklet-ingadozási tesztnek vetik alá, a minimális és maximális hőmérséklet között ugrálva.
Végül az érintőképernyőnek 5 Grms lépésekben kell bizonyítania rezgésállóságát.
A kombinált stresszteszt a próbaüzem végén ismét maximális feszültséget generál az egyes terhelések egymásra helyezése miatt.
Garantált tartósság szélsőséges körülmények között
Nemcsak a speciális megoldásokat, hanem a standard érintőképernyőinket is HALT tesztnek vetjük alá.